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膜厚分析仪
1.用先进的X射线技术,可高效率低成本,小型的X-射线荧光光谱仪,操作简易但功能强大。
1.用先进的X射线技术,可高效率低成本,小型的X-射线荧光光谱仪,操作简易但功能强大。
2.可分析元素由铝(13)到铀(92),并且具备视像显微镜及可测量小到ppm的范围,即使是较大的测量样品也可放在XY(Z)测量台上。
3.拾载的WinFTM v6软件,使仪器可以在没有标准片的情况下进行测量。
4.能够检测各种大小的样品，满足镀层厚度测量和材料分析。
5.新型号设计，快速分析（几秒）1-4层镀层厚度。
6.多款规格，例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台。
7.满足所有样品类型，开槽式样品舱可检测大面积样品，例如印制线路板等。
8.符合ISO3487和ASTM B568检测方法
膜厚分析仪
2014-2017年中国测厚仪行业现状研究分析及市场前景预测报告，是目前测厚仪领域最专业和最全面系统的深度市场研究报告。首先介绍了测厚仪的背景知识，包括测厚仪的相关概念、分类、应用、产业链结构、产业概述，国际市场动态分析，国内市场动态分析，宏观经济环境分析及经济形势对测厚仪行业的影响，测厚仪行业国家政策及规划分析，膜厚仪产品技术参数，生产工艺技术，产品成本结构等；
2014-2017年中国测厚仪行业现状研究分析及市场前景预测报告，是目前测厚仪领域最专业和最全面系统的深度市场研究报告。首先介绍了测厚仪的背景知识，包括测厚仪的相关概念、分类、应用、产业链结构、产业概述，国际市场动态分析，国内市场动态分析，宏观经济环境分析及经济形势对测厚仪行业的影响，测厚仪行业国家政策及规划分析，膜厚仪产品技术参数，生产工艺技术，产品成本结构等；
膜厚分析仪X射线具有很强的穿透能力。在媒体的界面，它的折射率很小，几乎为1。从而使我们可以按几何方式来计算成像的比例。
联系人: 舒翠
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