租赁x-ray膜厚仪 回收/维修
测量模式用于:
测量模式用于:
1.单、双及三层镀层系统。
2.双元及三元合金镀层的分析和厚度测量。
3.双层镀层,其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析(两层的厚度和合金成分都能被测量)。
4.能分析多达四种金属成分的合金,包括金的开数分析的特殊功能。对电镀溶液的分析能力可达包含一或二种阳离子的电镀液。
5.可通过RS-232接口或使用网络环境控制命令设定数据的输出和输入以实现系统的远程控制。
6.通过使用可选择的带合成条形码读入器的键盘实现产品选择。
7.可编程的应用项图标,用于快速产品选择。
8.完整的统计功能,SPC图,标准的概率图和矩形图评估。
9.报告生成,数据输出。
10.语言可选择:英语,德语,法语,意大利语,西班牙语,及中文。
11.菜单中的某些选择项可授权使用。
x-ray膜厚仪放射源基本结构。放射源主要由X射线管、阴极丝、变压器、高压倍压电路组成。X射线管是密封真空的,它的阴极是钨丝,阳极是钨制成的目标靶。当阴极通电时,阴极钨丝由于发热而产生热电子,热电子在高压作用下产生动能,并以很高的加速度射向阳极目标靶形成管电流。当热电子撞到阳极靶时.它的动能就转换成热和X射线,穿透射线管以光子的形式发射出去。
x-ray膜厚仪标准块盒。标准块盒的主要作用是对测厚仪进行校准,由校准的结果得到一组校准曲线。标准块盒的位置在X射线管的上面,由7个纯铝标准块组成,每个标准块由一个电控电磁线圈驱动放人X射线束,通过计算机控制可组成不同的厚度。该测厚仪总的校准范围为10~500fmi。
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